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    光-電聯用顯微鏡法(CLEM)系統
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    掃描電子顯微鏡FlexSEM100 Hitachi的掃描電子顯微鏡FlexSEM1000「先進的SEM設計得更加緊湊」 只有45厘米寬的緊湊型設計,實現了4.0nm的分辨率。 全新開發的用戶界面和電子光學系統,使性能大幅提升。

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  • 離子濺射儀 MC1000
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